Laboratuvarlarımızda mevcut taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve cihaza bağlı elementel analiz ekipmanı (EDS ) ile her türlü malzeme analizi, görüntüleme ve hasar analizi yapılabilmekte mikron ve mikron altı boyutlarda fotoğraflama, görüntü işleme, ölçüm ve analiz işleri yürütülebilmektedir. Demir-Çelik, Alüminyum, Bakır ve Titanyum gibi tüm metalik malzemelerde ve dahası tüm cam, seramik ve benzeri metal olmayan malzemelerin analizlenmesi ve incelenmesinde de Taramalı Elektron Mikroskobundan (SEM) faydalanılmaktadır.